正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析
這是一種可以使用正電子評估亞納米尺寸(原子級)的微小缺陷和空隙的方法。
正電子壽命測量是一種能夠使用正電子評估亞納米尺寸(原子級)微缺陷和空隙的技術(shù)。
噴丸質(zhì)量檢查
金屬疲勞損傷評估
鋼、鋁、鈦等各種金屬
非晶態(tài)材料,例如玻璃和聚合物
測量深度距表面約50μm(鋼材)
圖1是正電子進入金屬材料并湮滅的示意圖。
正電子壽命測定法是準確測定正電子產(chǎn)生時放出的γ射線與電子對湮滅時產(chǎn)生的γ射線的時間差(正電子壽命)的技術(shù)。材料中空位越多,位錯密度越高,正電子壽命越長。
■所謂陽電子
帶正電荷的電子“反粒子"。與電子相遇就會對消失γ放出線。
■所謂正電子壽命
是指正電子與電子相遇并消失之前的時間(壽命)。正電子壽命取決于電子密度,空隙尺寸越大,電子密度越低,所以正電子壽命會更長。
正電子源 | Na-22 (~1MBq) |
計數(shù)率 | 約 100 厘泊 |
測量范圍 | 40 ns(對于金屬、半導(dǎo)體和聚合物) |
附屬設(shè)備 | ?HDO4024(Teledyne LeCroy DSO)、 (HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]) ?特殊程序 ?筆記本電腦等。 |
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