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正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

  • 發(fā)布日期:2022-11-30      瀏覽次數(shù):783
    • 正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

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      產(chǎn)品概要

      • 這是一種可以使用正電子評估亞納米尺寸(原子級)的微小缺陷和空隙的方法。

      • 正電子壽命測量是一種能夠使用正電子評估亞納米尺寸(原子級)微缺陷和空隙的技術(shù)。

      本裝置應(yīng)用實例

      •  噴丸質(zhì)量檢查

      • 金屬疲勞損傷評估

      適用于

      •  鋼、鋁、鈦等各種金屬

      •  非晶態(tài)材料,例如玻璃和聚合物

      •  測量深度距表面約50μm(鋼材)

      • *與產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所共同開發(fā)

      正電子壽命法原理

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      • 圖1是正電子進入金屬材料并湮滅的示意圖。
        正電子壽命測定法是準確測定正電子產(chǎn)生時放出的γ射線與電子對湮滅時產(chǎn)生的γ射線的時間差(正電子壽命)的技術(shù)。材料中空位越多,位錯密度越高,正電子壽命越長。

      • ■所謂陽電子

      • 帶正電荷的電子“反粒子"。與電子相遇就會對消失γ放出線。

      • ■所謂正電子壽命

      • 是指正電子與電子相遇并消失之前的時間(壽命)。正電子壽命取決于電子密度,空隙尺寸越大,電子密度越低,所以正電子壽命會更長。

      常用規(guī)格

      正電子源Na-22 (~1MBq)
      計數(shù)率約 100 厘泊
      測量范圍40 ns(對于金屬、半導(dǎo)體和聚合物)
      附屬設(shè)備?HDO4024(Teledyne LeCroy DSO)、
      (HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm])
      ?特殊程序
      ?筆記本電腦等。


    聯(lián)系方式
    • 電話

    • 傳真

    在線交流