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電解式膜厚儀 測厚儀

訪問次數(shù):1246

更新日期:2024-03-20

簡要描述:

日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311
Windows 規(guī)格,全功能可實現(xiàn)多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用
Windows 規(guī)格輕松處理數(shù)據(jù) -多可以注冊 50 個測量通道 - 可以為多層膜設置多 5 層的測量條件
- 當出現(xiàn)異常值時,測量值顯示在紅色報告中,并帶有顯示和警告聲

電解式膜厚儀 測厚儀
類型數(shù)字式測量范圍1

日本電測densoku電解膜厚儀GCT-311


Windows規(guī)格,全功能可進行多達5層的多層膜測量

?通過使用個人計算機提高了可操作性和增強的功能
?使用Windows規(guī)格輕松進行數(shù)據(jù)處理
?z多可注冊50個測量通道

?多層膜z多可設置5層測量條件
?發(fā)生異常值時,測量值顯示為紅色帶有顯示和警告聲的報告

電解膜厚儀GCT-311的特點

改進的可操作性和增強的功能

通過使用個人計算機,提高了可操作性并增強了功能。

易于數(shù)據(jù)處理

使用Windows規(guī)范可以輕松完成數(shù)據(jù)處理。

z多可以注冊50個頻道

z多可以注冊50個測量通道。

z多5層多層膜

多層膜z多可以設置5個層的測量條件。

發(fā)生異常值時具有警告功能

通過設定上限和下限發(fā)生異常值時,測量值顯示為紅色,并顯示警告聲。

自動顯示所用電解液的類型

薄膜和基材的組合會自動顯示所用電解質(zhì)的類型。

易于檢查顯示處理方法

您可以檢查測量單位的顯示處理方法。

純錫層和合金錫層可分別測量

可以對純錫層和合金錫層分別進行“錫/銅"測量。

輕松測量雙鎳和三鎳之間的電勢差

通過使用比較電極(可選)和電勢圖測量,可以輕松地測量雙鎳和三鎳之間的電勢差。

日本電測densoku電解膜厚儀GCT-311

電解膜厚儀GCT-311的規(guī)格

測量范圍

0.01-300微米

z低分辨率

0.001微米

機體精度

±1%

計量單位

μm,mm,mil,毫升

測量面積

1.7,2.4,3.4mmφ

電源供應

AC100V

車身尺寸

寬265×深215×高138mm

重量

4.5公斤

控制

Windows規(guī)格電腦


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