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更新日期：2024-03-23
簡要描述：
日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness 由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度，因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。
| 品牌 | 其他品牌 | 類型 | 數(shù)字式 |
|---|---|---|---|
| 測量范圍 | 1 | 產(chǎn)地 | 進口 |
日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
由于光照射在透明或半透明的薄膜上，并且根據(jù)光的光譜信息計算薄膜厚度，因此作為一種在不損壞樣品的情況下具有良好再現(xiàn)性的測量方法而備受關(guān)注。
由于樣品是用光纖照射的，因此可以從任何位置在線使用。
當與致動器結(jié)合使用時，也可以進行簡單的映射膜厚度測量。
影片
硅、氮化硅、氧化硅
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日本spectra USB簡易膜厚測量裝置Handy Lambda Ⅱ Thickness
| 型 | 方便的λII.厚度 | 實心氧厚度 |
|---|---|---|
| 測量膜厚度范圍 | 50納米-20微米 | 50納米-100微米 |
| 薄膜厚度顯示分辨率 | 0.001微米 | 0.001微米 |
| 測量重復(fù)性 | 0.01μm以下 | 0.01μm以下 |
| 接口 | USB2.0 | USB2.0 |
