ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

訪問次數(shù)：1252

更新日期：2024-05-21

簡要描述：

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。

詳細介紹

品牌	其他品牌	類型	無損傷
產(chǎn)地	進口

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實現(xiàn)快速、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

產(chǎn)品特征

產(chǎn)品特長	高速測量（6" 襯底　90秒） ?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。縱向結(jié)晶評價 ?因為是透視型結(jié)晶評價裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果 ?可以取得同等測試效果，實現(xiàn)高速低成本。價格競爭力 ?在晶片測量裝置中，屬于性價比好的一款系統(tǒng)。
可測量材料	SiC單晶襯底、及SiC外延襯底 GaN單晶襯底、及GaN外延襯底 AlN單晶襯底、及AlN外延襯底可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。
測試效果不佳材料	?無可視光透視性材料：Si、GaAs等 ?無雙折射效果材料：藍寶石、Ga2O3 等

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：日本toe微型滾筒測量裝置LMG
下一篇：maruto實驗金屬材料小型切割機MC-112

五月丁香久久久,亚洲婷婷五月天小说一区二区,激情小说视频网,色诱视频99

ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1

產(chǎn)品特征

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：